Здравствуйте!
Я занимаюсь эффектами радиации в цифровой микроэлектронике. Сразу признаюсь, что ни в самолетах, ни в военной технике не разбираюсь. Многие из вас наверное знают, что электроника дает сбои при повышенном уровне радиации. Говоря просто, бит в памяти или логике меняет значение с 0 на 1 или наоборот, но физического повреждения, которое можно бы было идентифицировать, нет. Английских терминов для обозначения сего феномена много, некоторые из них single event upset, soft error и transient fault. Наблюдается в аппаратах,
которые там, где протоны, нейтроны и прочие частицы, то есть высоко, а именно самолетах, спутниках и т.д., кроме того в медицинской аппаратуре. Когда ядерная бомба взрывается, наблюдается, понятно, тоже.
Здесь на Западе существует мнение, что коммерческая цифровая электроника с 65 нанометров и ниже будет подвержена похожим явлениям даже на земле. Делается вывод, что с этим надо бороться и брать пример с того, как это делают в авиации, спутниковой промышленности и т.д., с какими-то разумными корректурами. Вопрос, соответственно, а как это делают в этих отраслях в России? Попробую разбить вопрос на подвопросы и написать, насколько знаю, как это делают здесь. На полноту знаний не претендую! Буду рад получить ответы хотя бы на часть вопросов. Если кто-нибудь знает литературу по вопросу или российского ученого, занимающегося именно вот этим, тоже буду рад.
Вопросы:
1. Цифровая электроника для российской авионики - российского или зарубежного производства? В какой технологии производится? Используются ли коммерческие продукты или это специализированные микросхемы?
2. Считаются ли ошибки за счет повышенного уровня радиации проблемой вообще, существует ли статистика, сколько раз за полет они происходили, публикуется ли эта статистика?
3. Проходят ли цифровые компоненты какое-то тестирование на стенде с источником радиации? Если да, то какой источник? Есть ли какие-ни…
Дальше »»»